Discovery SDT 650?同步差示掃描量熱儀/熱重分析儀

  美國, 特拉華州New Castle 市，2017年3月6日—TA儀器隆重推出全新的同步差示掃描量熱儀/熱重分析儀- Discovery SDT ?650。   Discovery SDT 650擁有靈敏度、基線穩定性、溫度及氣氛控制性能。SDT 650是TA先進技術的同步熱分析儀，包括Modulated DSC?，Modulated TGA，及Hi-Res TGA，集先進技術于大成，勢必會開拓儀器分析的新領域。SDT 650是能夠同時測試熱流和熱重的系統。另外，SDT 650可以同時做雙樣品的TGA測試，TA專有的這項技術,將會有力的提高實驗室工作效率。   同步熱分析儀SDT 650能同時得到樣品隨著時間和溫度變化的熱流及重量變化信息。溫度范圍從室溫至1500°C、各種材料均可在SDT 650進行實驗，很好地滿足生產監控以及科研開發等需求。   TA儀器總裁Terry Kelly此次評論說:“我們從未有過在一臺儀器上賦予如此多的功能，包括準確的熱流、重量測試，先進的技術以及強大的自動化操作系統。TA自2016年推出新的Discovery系列以來受到廣泛的贊譽，客戶表示“獲得優異的數據，從無如此簡單過！” SDT 650勢必會成為熱分析實驗室很大的分析表征儀器”   SDT 650標配了TA的臥式雙桿熱天平技術與創新的快速連接桿設計，確保了使用和時間上的靈活性。與所有TA熱分析儀器一樣，SDT 650測試爐提供5年質保。 儀器配置30位的線性自動進樣器。該設計堅固可靠并大大提高了實驗測試效率，允許用戶進行靈活的實驗編程、自動無人化操作、儀器自動校準和驗證。