400-68-17025    
      
    
  
      
  

      
	
	
	
	
      
		
      

			
	
								
      
				
      
					
      
							

						
      
							
      
								
      
									
									
      
										
        
											
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      產(chǎn)品名稱：Sigma 500 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
      
										
      產(chǎn)品型號(hào)：Sigma 500
      
										
      產(chǎn)品品牌：Zeiss 蔡司
      
										
      在線咨詢
      
										
      
											
      客服熱線：400-68-17025(09:00 - 22:00)
      
										
      
										
      
											
      服務(wù)承諾：真實(shí)描述正品銷售售后保障
      
										
      
									
      
																	
      
							
      
						
      	

						
      
							
        
								
      • 產(chǎn)品詳情
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      Sigma 500 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
      

      

      

      

      

      

      

      

      

      用于高品質(zhì)成像與高分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
      

      

      

      

      

      

      

      

      

      

      

      

      

      用于清晰成像的靈活探測(cè)
      

      

      

      

        
 	
      • 利用先進(jìn)探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
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      • 利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
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      • 利用新一代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
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      自動(dòng)化加速工作流程
      

      

      

      

        
 	
      • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。
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      • 首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。
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      • 接下來對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。
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      分析型顯微鏡
      

      

      

      

        
 	
      • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。
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      • 在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
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      • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。
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      基于成熟的 Gemini 技術(shù)
      

      

      

      

        
 	
      • Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得很好的效果。
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      • Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率，通過二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
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      • Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。
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      用于清晰成像的靈活探測(cè)
      

      

      

      

        
 	
      • 利用新的探測(cè)技術(shù)表征所有的樣品。
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      • 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測(cè)器獲取形貌和高分辨率的信息。
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      • 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測(cè)器獲取銳利的圖像。
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      • 利用 aSTEM 探測(cè)器生成高分率透射圖像。
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      • 利用 BSD 或者 YAG 探測(cè)器進(jìn)行成份分析。
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